泄漏電流的測(cè)量

絕緣設(shè)備施加直流高壓時(shí)，會(huì)流過泄漏電流

良好的絕緣，泄漏電流隨試驗(yàn)電壓U成直線上升，且數(shù)值較小絕緣受潮，電流數(shù)值增大有集中性缺陷，則泄漏電流在超過一定試驗(yàn)電壓時(shí)將劇烈增加泄漏電流值發(fā)生劇增的試驗(yàn)電壓值愈低。

試驗(yàn)電壓

35kV以下設(shè)備：10~30kV

110kV及以上設(shè)備：40kV

能發(fā)現(xiàn)兆歐表不能發(fā)現(xiàn)的某些絕緣缺陷

電壓可隨意調(diào)節(jié)，可監(jiān)測(cè)泄漏電流的變化

試驗(yàn)時(shí)按級(jí)0.5倍試驗(yàn)電壓分階段升高

每階段停留1min，讀微安表讀數(shù)即為泄漏電流

繪制泄漏電流與加壓時(shí)間、泄漏電流與試驗(yàn)電壓關(guān)系曲線后進(jìn)行分析。

測(cè)量結(jié)果應(yīng)與下列數(shù)據(jù)比較

歷史資料

同類設(shè)備數(shù)據(jù)

同一設(shè)備不同部位(不同相)的數(shù)據(jù)>不平衡系數(shù)，當(dāng)K>2時(shí)，有缺陷存在

不平衡系數(shù)K=三相中的最大值/三項(xiàng)中的最小值

測(cè)量絕緣電阻和泄漏電流能有效地發(fā)現(xiàn)的缺陷：

兩極間穿透性的導(dǎo)電通道

絕緣受潮

表面污垢

測(cè)量絕緣電阻和泄漏電流不易發(fā)現(xiàn)的缺陷：

絕緣的局部缺陷(局部損傷或裂縫、含有氣泡、絕緣分層、脫開等)

絕緣的老化(此時(shí)的絕緣電阻還相當(dāng)高)。